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ParticleX 全自動(dòng)顆粒分析系統(tǒng)

更新時(shí)間:2023-12-29
產(chǎn)品型號(hào):
所屬分類(lèi):全自動(dòng)清潔度分析系列
描述:ParticleX 全自動(dòng)顆粒分析系統(tǒng)以?huà)呙桦婄R和能譜儀為基礎(chǔ),結(jié)合自動(dòng)控制系統(tǒng)以及強(qiáng)大的數(shù)據(jù)庫(kù)系 統(tǒng),可以全自動(dòng)對(duì)雜質(zhì)顆粒進(jìn)行快速識(shí)別、分析和分類(lèi)統(tǒng)計(jì),為客戶(hù)的研發(fā)以及生 產(chǎn)提供快速、準(zhǔn)確和可靠的定量數(shù)據(jù)支持。
詳情介紹

ParticleX 全自動(dòng)顆粒分析系統(tǒng)主要用于雜質(zhì)或顆粒物的綜合評(píng)估,可以自動(dòng)獲取大量顆粒的微觀形貌 和成分信息,具體包括:


• 顆粒粒度分布

• 顆粒形貌分析

• 雜質(zhì)成分檢測(cè)

• 高分辨率成像(8 nm 分辨率)


ParticleX 以?huà)呙桦婄R和能譜儀為基礎(chǔ),結(jié)合自動(dòng)控制系統(tǒng)以及強(qiáng)大的數(shù)據(jù)庫(kù)系 統(tǒng),可以全自動(dòng)對(duì)雜質(zhì)顆粒進(jìn)行快速識(shí)別、分析和分類(lèi)統(tǒng)計(jì),為客戶(hù)的研發(fā)以及生產(chǎn)提供快速、準(zhǔn)確和可靠的定量數(shù)據(jù)支持。


Phenom XL.jpg

ParticleX 全自動(dòng)顆粒分析系統(tǒng)


產(chǎn)品參數(shù)


電子顯微鏡:200,000 倍

探測(cè)器:高靈敏度四分割背散射電子探測(cè)器

燈絲材料:1,500 小時(shí) CeB6 燈絲

分辨率:優(yōu)于 10 nm

放置環(huán)境:采用專(zhuān)業(yè)防震設(shè)計(jì),可擺放于普通實(shí)驗(yàn)室或辦公室、廠房

加速電壓:4.8kV-20.5kV 連續(xù)可調(diào)

抽真空時(shí)間:小于 30 秒

能譜儀:可選配能譜儀


應(yīng)用領(lǐng)域


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ParticleX 可以監(jiān)控清潔度并識(shí)別機(jī)動(dòng)車(chē)流體系統(tǒng)中的污染源可降低現(xiàn)場(chǎng)故障率和保修成本。用于磨損碎屑表征的自動(dòng)化解決方案有助于制造商在生產(chǎn)車(chē)間實(shí)現(xiàn)清潔度和質(zhì)量控制的新標(biāo)準(zhǔn)。


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ParticleX 可以全自動(dòng)對(duì)正負(fù)極中的鐵類(lèi)雜質(zhì)顆粒進(jìn)行快速識(shí)別、分析和分類(lèi)統(tǒng)計(jì), 整個(gè)過(guò)程無(wú)需人工參與。定量磁性雜質(zhì)顆粒的形態(tài)、數(shù)量和種類(lèi),以此判定是哪個(gè)生產(chǎn)環(huán)節(jié)出了問(wèn)題。


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